XM-200型表面形貌测量仪特征 |
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XM-200型表面形貌测量仪特征 |
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X方向采用高精密滑动导轨作为水平移动的直线基准,导轨移动的距离采用高精度的光栅技术进行计量; • Z方向立柱也采用高精密滑动导轨,并采用编码器进行测量,由电机-滚珠丝杠系统驱动; • 可进行粗糙度和轮廓度的测量,可测量、驱动、计算、显示等,系统具有便携功能,可单独使用,灵活方便; • 测量软件采用 Windows平台,采用国内最新标准定义和评定,数学模型完整; • 具有调整工作台可进行 Y向及各种摆角调整,用户可根据需要自由选择,调整使用方便,功能齐全; • 测量参数多,可进行直线度、曲率偏差、双沟各种参数、平行差、高度等参数的测量,并可对机械件的表面形貌如粗糙度等严格按照国内标准进行测量。 • 测量精度高,差动电感传感器测量灵敏性可达 0.01μm以内,X向光栅灵敏性达0.5μm以内,Z方向可进行大量程高精度位移测量,精度达4μm; • 测量控制部位多,不仅进行传统的 Z方向小位移测量和X方向的位移测量,还可进行Z方向的大位移测量;选用Y方向移动工作台可以测量零件的三维表面型貌。 • 采用微机控制,可手动或自动循环测量、自动消除安装误差、自动进行量程变换、直接显示所得形状及各种参数,并可打印输出,具有标准数据库存储数据。 技术指标
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